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신뢰성 시험장비
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  • Burn-In Chamber (번인 챔버)
    번인 (Aging) 테스트는 반도체 팩키지, PBC모듈, 메인보드, LED, HDD, 셋톱박스 등 시스템 신뢰성 테스트의 초기에 높은 고장율을 갖는 주기 (Early Infant mortality) 동안에 고장을 발생시키게 함으로써 시스템의 결함을 감지 선별하고 개선을…
    [신뢰성 시험장비] 작성자이에스시테크 조회 2713 날짜 12-15

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